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走査型電子顕微鏡(SEM)による拡大観察

走査型電子顕微鏡(SEM)

走査型電子顕微鏡(SEM)は電子線を利用して試料表面から発生する二次電子などを検出することで、顕微鏡のように拡大観察を行う装置です。

また、特殊な検出器を増設すると、異物の混入部分など観察している箇所の元素分析をすることも可能です。


使用例としては、異形断面繊維の断面形状の観察、各種加工による繊維表面の状態の観察、原因調査などでは毛製品の穴あき部分の"虫食いの有無"の確認、汚れが"カビの発生"によるものかなどの確認があります。


写真1:羊毛セーターの穴あき部分(虫食い)

【左:羊毛セーターの穴あき部分(虫食い)、右:汚れ部分に見られたカビ】



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